納米粉末體系中粒子的Zeta電位及粒度表征

制藥、生物醫(yī)學、電子、光電子、能源、催化劑和陶瓷工業(yè)正在開發(fā)由各種材料組成的納米顆粒。這些顆粒通常在像水這樣的液體介質(zhì)中形成，或在形成后交替地分散。還會使用各種如醇類的非水相連續(xù)介質(zhì)。

這些材料的粒徑和粒徑分布（PSD）對最終用戶具有重要意義，因為它們會影響到關鍵的膠體性能，如流變學、薄膜光澤度、表面積和包裝密度等。此外，為了防止細顆粒團聚，必須采取一定的步驟防止顆粒因液體介質(zhì)中的顆粒間碰撞而粘在一起（聚集）?？梢酝ㄟ^創(chuàng)建一個粒子間的電能壘/或空間能壘來解決聚集問題。對于非常細的顆粒，可能需要電勢壘和空間勢壘的結合來防止聚集。

1、Zeta 電位測量

粒子電勢壘的強度是用一種被稱為“zeta勢"的電勢來測量的，目前電位測試方法主要有微電泳法和電聲法，在用電泳法測試電位時存在一個很大的缺陷，需要對樣品進行稀釋，但稀釋過程中離子可以在顆粒表面吸附或解吸從而導致Zeta電位改變，而且當顆粒尺寸減少到納米尺寸范圍時，由于微粒子散射光的多普勒展寬，微電泳中使用的光散射方法變得越來越難以使用。相比之下采用電聲原理測Zeta電位時不僅可以進行原液測試，同時還能避免因顆粒尺度的減小而無法測試的問題。

用電聲方法測量粒子的電動學特性時，主要是粒子在外加電場中進行電泳運動，如果粒子和液體之間存在密度差，這種運動將產(chǎn)生交替的聲波。此外，用超聲電聲法測試時儀器還能看到不同PH值下的Zeta電位值。

             圖1顯示了8.3%wt固體細粒（約270nm顆粒直徑）二氧化鈦系統(tǒng)的ζ電位隨pH的變化

圖2顯示了60nm的10% wt二氧化硅顆粒體系上的電位滴定結果。

2、粒度分布測試

圖3顯示了在兩個相當單分散的聚苯乙烯乳膠系統(tǒng)和圖2中所示的二氧化硅系統(tǒng)上疊加的高分辨率PSD結果

該粒度分析儀基于zhuanli毛細管水動力分餾（CHDF）技術，當樣品顆粒在毛細管中流動時，可以根據(jù)大小進行分離。這些粒子在毛細管出口由一個在線探測器檢測到，通常是一個紫外線（UV）探測器。粒子的大小由粒子在毛細管中的洗脫或通過的時間給出。這個洗脫時間只取決于顆粒的水動力大小，與顆粒的化學成分和密度無關。并且由于CHDF技術的高分辨率粒徑分餾能力，真正的PSD數(shù)據(jù)可以在不到15分鐘內(nèi)生成，與傳統(tǒng)的測量方法相比較具有分辨率高、測試時間短以及測試范圍廣等優(yōu)點。

胤煌科技(YinHuang Technology)是一家專注于為醫(yī)藥、半導體及化工材料等行業(yè)提供檢測分析設備及技術服務的高科技公司，致力于為客戶提供全面、準確的檢測分析和解決方案。主營產(chǎn)品包括不溶性微粒分析儀，可見異物檢查分析儀，原液粒度及Zeta電位分析儀，CHDF高精度納米粒度儀，高分辨納米粒度儀，溶液顏色測定儀，澄清度測定儀等，公司自主研發(fā)的YH-MIP系列顯微計數(shù)法不溶性微粒儀、YH-FIPS系列流式動態(tài)圖像法粒度儀，YH-FIPS系列微流成像顆粒分析儀已經(jīng)在生物醫(yī)藥、半導體及材料化工領域得到廣泛應用.